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半圆形卡规

半圆形卡规(板)检验工件通常有通止法 (利用卡规的通端和止端控制工件尺寸使之不超出公差带)、着色法(在卡规工作表面上涂上一薄层颜料,用卡规表面与被测表面研合,被测表面的着色面积大小和 分布不均匀程度表示其误差)、光隙法(使被测表面与卡规的测量面接触,后面放光源或采用自然光,根据透光的颜色可判断间隙大小,从而表示被测尺寸、形状或 位置误差的大小)和指示表法(利用卡规的准确几何形状与被测几何形状比较,以百分表或测微仪等指示被测几何形状误差)。其中利用通止法检验的卡规称为 卡规(如量规、光滑塞规、螺纹塞规、螺纹环规等)。




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